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日立U-3310紫外可见分光光度计标准操作规程
 时间:
                       2011/06/27
                         作者:
                       admin
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                     | 分析测试中心大型仪器设备标准操作规程SOP | ||
| 仪器名称、型号:U-3310紫外可见分光光度计 生产厂家及编号:日本日立 20066090 | 页码:1/2 | |
| 第1版第1次修改 | ||
| 文件编号: | ||
| 制定人:宋娟 | 审核人:柳亦松 | 批准人: | 
| 制定日期:2011.4 | 审核日期:2011.4 | 批准生效日期: | 
| 制定部门:分析测试中心     存放地点:湖南农业大学生命科学楼三楼南315 | ||
一、仪器开机
开主机    击UV-Solutions工作软件  仪器自检,显示Ready  进行操作。
二、选择测量功能
1、波长扫描
⑴测量参数设置:主界面中击【Method】:①从General中选择Wavelength scan  在Instrument中选Abs、波长扫描范围(起始值>终止值)、波长扫描速度、延时时间设置、测量重复次数等  从Processing设定峰值判定。或者在General中选Load导入已有波长扫描方法;②从Use Sample Table中设置样品名及信息。
⑵基线校正:①空白池和样品池分别放入样品室(空白池在前方)  击【Baseline】选择User1或User2  吸光度自动校零(基线校正);②如有必要,使用空气作为参比和样品,选择System进行系统基线校正。
⑶测量:击【Measure】开始测量,如要终止扫描击【Stop】。
2、时间扫描
⑴测量参数设置:击【Method】,①General中选择Wavelength scan  Instrument中选Abs、波长扫描范围(起始值>终止值)、波长扫描速度、延时时间设置、测量重复次数等  Processing设定峰值判定;或者General中选Load导入已有时间扫描方法;②Use Sample Table中设置样品名及信息。
⑵基线校正:①空白池和样品池分别放入样品室(空白池在前方),击【Baseline】,选择User1或User2  吸光度自动校零(基线校正);②如有必要,使用空气作为参比和样品,选择System进行系统基线校正。
⑶测量:击【Measure】开始测量,如要终止扫描,击【Stop】。
3、定波长测量。
⑴测量参数设置:主界面中击【Method】,①General中选择Photometry、输入操作者姓名、  Quantitation中选择标样回归方法和浓度回归方式  Instrument中选Abs、固定波长值、延时时间、测量重复次数等   Standards中设置标准样品表;或者General中选Load导入已定波长测量方法;②Use Sample Table中设置样品名及信息。
⑵基线校正:①空白池和样品池分别放入样品室(空白池在前方)  击【Baseline】选择User1或User2  吸光度自动校零(基线校正);②如有必要,使用空气作为参比和样品,选择System进行系统基线校正。
⑶测量:在主界面击【Measure】,开始逐一测量标准样品和被测样品,终止扫描击【Stop】,测量完毕,击【End】结束测量。
三、仪器关机
关UV-Solutions工作软件  关主机  关电脑。
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