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日立U-3310紫外可见分光光度计标准操作规程
时间:
2011/06/27
作者:
admin
点击: 次
分析测试中心大型仪器设备标准操作规程SOP | ||
仪器名称、型号:U-3310紫外可见分光光度计
生产厂家及编号:日本日立 20066090 |
页码:1/2 | |
第1版第1次修改 | ||
文件编号: | ||
制定人:宋娟 |
审核人:柳亦松 |
批准人: |
制定日期:2011.4 |
审核日期:2011.4 |
批准生效日期: |
制定部门:分析测试中心 存放地点:湖南农业大学生命科学楼三楼南315 |
一、仪器开机
开主机 开电脑电源 击UV-Solutions工作软件 仪器自检,显示Ready 进行操作。
二、选择测量功能
1、波长扫描
⑴测量参数设置:主界面中击【Method】:①从General中选择Wavelength scan 在Instrument中选Abs、波长扫描范围(起始值>终止值)、波长扫描速度、延时时间设置、测量重复次数等 从Processing设定峰值判定。或者在General中选Load导入已有波长扫描方法;②从Use Sample Table中设置样品名及信息。
⑵基线校正:①空白池和样品池分别放入样品室(空白池在前方) 击【Baseline】选择User1或User2 吸光度自动校零(基线校正);②如有必要,使用空气作为参比和样品,选择System进行系统基线校正。
⑶测量:击【Measure】开始测量,如要终止扫描击【Stop】。
2、时间扫描
⑴测量参数设置:击【Method】,①General中选择Wavelength scan Instrument中选Abs、波长扫描范围(起始值>终止值)、波长扫描速度、延时时间设置、测量重复次数等 Processing设定峰值判定;或者General中选Load导入已有时间扫描方法;②Use Sample Table中设置样品名及信息。
⑵基线校正:①空白池和样品池分别放入样品室(空白池在前方),击【Baseline】,选择User1或User2 吸光度自动校零(基线校正);②如有必要,使用空气作为参比和样品,选择System进行系统基线校正。
⑶测量:击【Measure】开始测量,如要终止扫描,击【Stop】。
3、定波长测量。
⑴测量参数设置:主界面中击【Method】,①General中选择Photometry、输入操作者姓名、 Quantitation中选择标样回归方法和浓度回归方式 Instrument中选Abs、固定波长值、延时时间、测量重复次数等 Processing中设定峰值判定 Standards中设置标准样品表;或者General中选Load导入已定波长测量方法;②Use Sample Table中设置样品名及信息。
⑵基线校正:①空白池和样品池分别放入样品室(空白池在前方) 击【Baseline】选择User1或User2 吸光度自动校零(基线校正);②如有必要,使用空气作为参比和样品,选择System进行系统基线校正。
⑶测量:在主界面击【Measure】,开始逐一测量标准样品和被测样品,终止扫描击【Stop】,测量完毕,击【End】结束测量。
三、仪器关机
关UV-Solutions工作软件 关主机 关电脑。
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